Нанометрология

Учебное пособие. — М.: Логос, 2011. — 592 с. — ISBN 978-5-98704-613-5. Авторы: Анашина О.Д., Андрюшечкин С.Е., Аневский С.И., Бражников В.В., Булыгин Ф.В., Головань Л.А., Горшкова Т.Б., Гусев А.С., Демин А.В., Заботнов С.В., Золотаревский С.Ю., Золотаревский Ю.М., Иванов В.С., Ильин А.П., Качак В.В., Кашкаров П.К., Клековкин И.В., Кононогов С.В., Коршунов А.В., Крутиков В.Н.,...

Учебное пособие. — М.: МИЭТ, 2011. — 256 с. — ISBN: 978-5-7256-0658-4 Изложены основные вопросы метрологии с акцентом на ее прикладные аспекты. Представлен и разобран ряд методически и практически важных экспериментальных методов и измерительных методик. Значительное внимание уделено постановке эксперимента, процедурам и схемам измерений, анализу причин и физических эффектов,...

Монография. — Москва: Логос, 2011. — 416 с. Содержит основные сведения по метрологическому обеспечению наноиндустрии. Рассмотрены становление нанометрологии в XX-XXI вв. и концепции ее развития. Подробно изложены современные основы технического обеспечения нанометрологии. Освещены вопросы нестабильности, точности и неопределенности наноизмерений. Особое внимание уделено...

СПб.: Наука, 2008. — 260 с. Монография впервые освещает место и роль стандартизации и метрологии при действиях с объектами, относящимися к нанодиапазону. В книге содержатся сведения о разрабатываемых международных и национальных стандартах в области наноиндустрии, совершенствовании эталонной базы, создании системы информационного обеспечения проводимых работ. Книга...