Springer, 2025. — 199 p. This book describes several versatile hardware analysis techniques that tackle existing and new challenges. These techniques cover different phases of the hardware development process, including the verification, debugging, and post-synthesis optimization phases. The authors introduce the Waveform Analysis Language (WAL), which allows users to code...
М.: типография МЭИ, 1973. — 115 с. Учебное пособие составлено по материалам лекций соответствующей части общего курса «Конструирование радиоэлектронной аппаратуры», прочитанного студентам радиофакультета МЭИ в период 1965-1968 гг. Ограниченный объем сведений, изложенных в пособии, определяется небольшим числом лекционных часов, посвященных вопросам надежности в упомянутом выше...
Перевод с немецкого Б.Н. Абрамова, В.А. Воротинского, В.И. Казакевича. — Москва: Мир, 1977. — 260 с. Книга содержит наиболее интересные работы, отражающие современное состояние теории и практики надежности интегральных микросхем, транзисторов, резисторов, конденсаторов, магнитомеханических фильтров, контактных соединений и систем. Рассмотрены проблема надежности и перспективы...
Диссертация на соискание ученой степени кандидата технических наук: 05.12.04 - Радиотехника, в том числе системы и устройства телевидения. — МИРЭА — Российский технологический университет. — Москва, 2020. — 114 с. Научный руководитель: д.т.н., профессор Увайсов С.У. Цель исследования. Повышение достоверности вибродиагностики конструкций БРЭС, а также обеспечение возможности...
Диссертация на соискание ученой степени кандидата технических наук: 05.12.04 – Радиотехника, в том числе системы и устройства телевидения. — МИРЭА — Российский технологический университет.— Москва. 2021 г. — 157 с. Научный руководитель: д.т.н., профессор С.У. Увайсов Цель исследования. Повышение полноты контроля технического состояния РЭУ на основе дополнения традиционной...
Диссертация на соискание ученой степени кандидата технических наук: 2.2.13. Радиотехника, в том числе системы и устройства телевидения. — МИРЭА — Российский технологический университет. — Москва, 2022. — 136 с. Научный руководитель: д.т.н., профессор Увайсов С.У. Цель исследования. Обеспечение возможности обнаружения и идентификации конструктивных дефектов в печатных узлах...
Диссертация на соискание ученой степени кандидата технических наук: 2.2.13. Радиотехника, в том числе системы и устройства телевидения. — МИРЭА — Российский технологический университет. — Москва, 2024. — 119 с. Научный руководитель: д.т.н., профессор Увайсов С.У. Цель исследования. Автоматизация диагностирования РТУ по электрическим характеристикам для обнаружения...
Учебно-методическое пособие. — Севастополь: СевГУ, 2023. — 122 с. Радиоэлектронные средства телекоммуникационных систем. Основные понятия, термины и определения. Системный подход к РЭС и их проектированию. Система показателей качества РЭС. Обеспечение работоспособности РЭС. Тепловой режим РЭС и его обеспечение. Механические воздействия и защита от них. Паразитные связи и...
Методические указания по выполнению практических занятий. — Тамбов: Тамбовский государственный технический университет (ТГТУ), 2020. — 32 с. Содержат методические указания по диагностированию возможных неисправностей электронных устройств на примере: линейного источника питания, линейного стабилизатора напряжения и генератора синусоидального сигнала. Приведены примеры...
Учебное пособие. — Самара: СГАУ, 2009. — 76 с. Рассмотрены место и роль испытаний в Единой системе управления качества радиоэлектронных средств, эксплуатационные факторы, влияющие на функционирование радиоэлектронной аппаратуры, экономические и статистические аспекты планирования испытаний, испытания радиоэлектронной аппаратуры на надежность; даны рекомендации по методике...
Лабораторный практикум. — Ульяновск: УлГТУ, 2022. — 67 с. Данное пособие к лабораторно-практическим занятиям составлено в соответствии с программой курса «Контроль и диагностика измерительно-вычислительных комплексов». Пособие предназначено для студентов направления 12.03.01 «Приборостроение» и содержит описание восьми лабораторных работ с краткой теорией к ним. Все восемь...
Методические указания. — Тамбов: Тамбовский государственный технический университет (ТГТУ), 2018. — 32 с. Содержат подборку заданий по всем темам и несколько возможных вариантов тестов, которые в совокупности охватывают все разделы курса «Надёжность аппаратно-программных комплексов». Предназначены для студентов высших учебных заведений, обучающихся по специальности...
М.: Связь, 1974. — 105 с. с ил. Излагаются методы расчета, настройки и испытаний транзисторных усилителей с автоматической регулировкой усиления, используемых в вещательных радиоприемниках, аппаратуре проводной связи и измерительной технике. Книга предназначена для инженеров и техников, занимающихся разработкой и эксплуатацией радиоэлектронной аппаратуры на транзисторах, и...
Л.: Судостроение, 1974. — 328 с. Книга посвящена рассмотрению расчетных методов оценки надежности, эффективности и качества радиоэлектронных систем, в первую очередь, устанавливаемых на судах. Применительно к судовым радиоэлектронным системам связи, радиолокации и радионавигации приводятся примеры, иллюстрирующие использование этих методов. Глава 1 посвящена определению...
Учебное пособие. — М.: МИРЭА, 2000. — 86 с. — (Московский государственный институт радиотехники, электроники и автоматики (технический университет)). Рассмотрены вопросы качества продукции и оценивания ее характеристик с помощью познавательных операций (технических измерений, контроля, испытания и диагностики) в соответствии с общепризнанной терминологией. Пособие является...
Под редакцией Р.Б. Улинича. — М.: Советское радио, 1966. — 134 с. — (Библиотека инженера по надежности). В книге рассматриваются основные вопросы обеспечения эксплуатационной надежности в применении к принятой последовательности изготовления аппаратуры сложных радиоэлектронных изделий при производстве малых серий. Оценивается влияние на надежность радиоэлектронной аппаратуры...
М.: Радио и связь, 1988. — 256 с. В книге на основе современных физических представлений рассмотрены вопросы надежности полупроводниковых приборов и интегральных микросхем. Значительное внимание уделено влиянию различных технологических факторов и условий применения на надежность. Подробно рассмотрены дефекты, возникающие в исходных материалах, и механизмы отказов...