М.: Академия Наук СССР, 1961. — 367 с. + 20 с. Введение. Некоторые сведения о строении вещества. Строение кристаллов. Строение молекул, жидкостей и аморфных тел. Некоторые закономерности структурной химии. Основы теории рассеяния рентгеновских лучей. Рассеяние атомами. Рассеяние молекулами. Рассеяние кристаллами без учета интенсивностей.ю Методы исследования кристаллов....
Пер. с англ. Е.Н. Беловой и Г.П. Литвинской; Под ред. акад. Н.В. Белова. — М.: Мир, 1972. — 384 с.: ил. Авторы книги Г. Липсон и Г. Стипл — английские ученые, специалисты в области рентгенографии, причем первый из них известен советским читателям по переводу книги, написанной на высоком теоретическом уровне (ЛипсонГ., Кокрен В., Определение структуры кристаллов, ИЛ, 1956)....
Монография. — М.: Наука, 2002. — 256 с. В монографии английских ученых освещены основы теории и практики современных неразрушающих рентгеновских методов исследования и контроля реальной структуры материалов электронной техники. Объединены высокоразрешающая дифрактометрия и топография, которые особенно эффективно используются совместно, охвачены все аспекты их применения. Особое...
Москва: Энергоиздат, 1982. — 144 с. Посвящена теоретическим аспектам дифракции медленных (Е<100 эВ) электронов (ДМЭ) поверхностью металлов, полупроводников и изоляторов. В первой части дан систематический обзор различных теоретических методов описания ДМЭ чистой поверхностью. Обсуждаются и сопоставляются различные подходы от первого классического подхода Бете до современных...
Москва: Издательство иностранной литературы, 1950. — 572 с. Книга Р. Джеймса представляет собой фундаментальную монографию, посвященную вопросам диффракции рентгеновских лучей. В ней систематически изложены теоретические основы методов исследования кристаллических и аморфных твердых тел, жидкостей и газов с помощью рентгеновских лучей. Теоретические результаты всюду...
Москва: Металлургиздат, 1961. — 368 с. В книге описаны аппаратура, методика и ход рентгеноструктурного исследования металлов и сплавов, использование рентгеновских методов анализа для изучения тонкой внутризеренной структуры, внутренних напряжений, рекристаллизации, текстуры. Показано, как проводится рентгеновский фазовый анализ и анализ физико-термической обработки сталей....
Ленинград: Машиностроение, 1973. — 256 с. В книге рассмотрено устройство полуавтоматических и автоматических дифрактометров, разработанных и выпускаемых в Советском Союзе. Большое внимание уделено приборам, управляемым непосредственно вычислительными машинами, а также дифрактометрам, одновременно измеряющим многие отражения. Подробно изложены вопросы оптимизации...
Москва: Мир, 1975. — 256 с. Книгу известного английского ученого Г. Мильбурна можно рассматривать как введение в рентгеноструктурный анализ для тех, кто впервые знакомится с этим мощным и эффективным методом исследования пространственного строения различных химических соединений. Написанная почти в конспективном виде, она освещает ряд важных теоретических и практических...
Учебное пособие. — М.: МИСиС, 1995. — 47 с. Пособие включает в себя описание 4 лабораторных работ. Первые две работы выполняются с использованием дифрактометра: анализ профиля линии для суждения о структурном (внутризеренном) состоянии материала и определение текстуры. Обе работы предполагают не просто освоение принципов и техники расчета, но и выбор оптимальных условий...
Учебное пособие. — М.: Издательский дом МИСиС, 2002. — 78 с. — (Московский институт стали и сплавов). В пособии рассматриваются методы анализа субструктуры (средний размер блоков, распределение блоков по размерам, угол разориентировки между блоками, величина микродеформаций решетки и плотность дислокаций) по профилю и интенсивности рентгеновских дифракционных линий. Большое...
Монография. — М.: Наука, 1973. — 100 с. — (Башкирский филиал АН СССР). Рассмотрены некоторые вопросы теории диффузного рассеяния рентгеновских лучей стареющими сплавами и методы анализа диффузных дифракционных эффектов. В теоретической части рассматривается диффузное рассеяние рентгеновских лучей в сплавах с неоднородностями типа зон Гинье—Престона, с частицами фазы выделения,...
Москва: Мир, 1968. — 440 с. Книга написана известным бельгийским физиком С. Амелинксом, автором многочисленных работ по исследованию дислокаций, и посвящена физическим основам методов непосредственного наблюдения дислокаций. Подробно изложены методы избирательного травления, декорирования, рентгеновской дифракционной топографии и особенно просвечивающей электронной микроскопии....
Монография. — Кишинев: Штиинца, 1973. — 116 с. — (Институт прикладной физики, АН МССР). Изложены методы расшифровки кристаллов соединений, имеющих преимущественно один или несколько независимых тяжелых атомов в элементарной ячейке. Даны статистические методы определения центра симметрии, разновидности синтезов функции Патерсона, предложенные индийскими авторами,...
М.: Наука, Главная редакция физико-математической литературы, 1981. — 496 с. Приведены справочные данные и методические указания для индицирования рентгенограмм монокристаллов и поликристаллов различных веществ. Описаны методы индицирования лауэграмм прямой и обратной съемки, рентгенограмм вращения и других видов рентгенограмм монокристаллов. Приведены диаграммы для...
Монография. — М.: Недра, 1974. — 184 с. Изложены методы количественного рентгеновского фазового анализа и описаны современная аппаратура. Большое внимание уделено вопросам эксперимента, включая способы юстировки и контроля за работой дифрактометров, методам препарирования и измерения интенсивности дифракционных отражений. Рассматриваются примеры анализа разнообразных минеральных...
San Francisco and London: W. H. Freeman and Company, 1963. — 378 p. (Translated from second French edition by P. Lorrain and D. S.-M. Lorrain) Fundamentals of X-Ray Diffraction Theory General Theory of X-Ray Diffraction for An Arbitrary Structure X-Ray Diffraction from Amorphous Substances: Gases, Liquids, and Vitreous Solids Diffraction of X-Rays by Crystals Diffraction by...
Учебное пособие. — Москва: Изд-во Московского университета, 1983. — 288 с. В пособии систематизированы сведения, взятые из периодической литературы (по 1980-й год включительно), о принципах работы приборов, предназначенных для регистрации дифракционных картин, получаемых при рассеянии рентгеновских лучей монокристаллами, и измерения интегральных интенсивностей отражений. Каждый...
М.; Л.: Гостехиздат, 1940. — 446 с. Предисловие. Перечень важнейших обозначений. Введение. Кристаллографические основы структурного анализа. Основные понятия и формулы геометрической кристаллографии. Способы изображения кристаллов. Учение о симметрии кристаллов. Теория интерференции рентгеновских лучей, рассеиваемых материальными телами. Геометрия интерференции рентгеновских...
Учебное пособие. — Минск: БГУ, 1979. — 136 с. Учебное пособие состоит из двух частей. В первой рассматриваются элементы классической кристаллографии, во второй, посвященной рентгеноструктурному анализу, элементы кинематической и динамической теорий рассеяния рентгеновских лучей и основанные на них методы исследования степени совершенства структуры кристаллов. По основным...
Москва: Изд-во Московского университета, 1986. — 240 с. В пособии представлены как классические методы рентгенографии (определение структуры и ориентировки кристаллов с помощью неподвижного , вращающегося и колеблющегося монокристалла, периодов элементарной ячейки и фазового состава по рентгенограммам поликристаллов), так и новые методики, позволяющие изучать структуру реальных...
Учебное пособие. — С-Пб.: СПбГУ, 2016. — 67 с. В настоящем пособии кратко изложены основы метода Ритвельда и его возможности, рекомендуемая последовательность уточнения параметров и методика работы с некоторыми из программ. Особое внимание уделено количественному фазовому анализу многофазных смесей, что важно для описания и количественной оценки как минералогических проб, так и...
М.: Наука, 1980. — 255 с. Учебное пособие посвящено сжатому изложению на современном уровне широкого круга вопросов теории, методов, аппаратуры и ряда применений структурного анализа (СА) к исследованию атомной и магнитной структуры твёрдых тел. Одновременно с дифракционными методами СА впервые даётся изложение теории и практики резонансного СА, основанного на эффекте...
Монография. — Новосибирск: Наука, 1989. — 243 с. В монографии собран и обобщён материал по повышению точности получения и обработки экспериментальных данных в дифрактометрии поликристаллов. Рассмотрены типы современных дифрактометров и их основные характеристики, математическая теория аберраций, методы юстировки гониометров для получения оптимального разрешения и светосилы....
New York: McGraw-Hill Book Company. – 1958. – 354 p. The powder method-the analysis of polycrystalline or powdered materials by passing x-rays through the sample and recording the resulting diagram is probably the most widely used application of x-ray diffraction, as well as one of the most modern and accurate means of analysis. This book contains a complete exposition of the...
М.: Металлургия, 1977. — 240 с. Рассмотрена методика локального микроанализа элементного состава тонких объектов (пленок) и идентификации микрофаз вещества по характеристическим рентгеновским спектрам. Этот метод позволяет проводить комплексное изучение электронномикроскопических объектов и в настоящее время выделился в самостоятельное направление — электронно-зондовый...
Монография. — Киев: Наукова думка, 1988. — 200 с. — ISBN: 5-12-009296-9. В монографии изложены основы теории и результаты экспериментального исследования динамического рассеяния рентгеновских лучей в монокристаллах, содержащих однородно распределенные дефекты, и обсуждены возможности использования этих результатов для создания новых высокоинформативных количественных методов...
М.: Государственное издательство технико-теоретической литературы , 1957. — 518 с. В предлагаемой книге изложены общие основы физики рентгеновских лучей, необходимые для дальнейшего изучения специальных вопросов применения рентгеновских лучей в науке и технике: рентгеноструктурного анализа, рентгеноспектрального анализа, технического просвечивания и др. Кроме того, более...
М.: Мир, 1974. — 236 с. Книга представляет собой краткое введение в рентгеноструктурный анализ монокристаллов. По уровню и характеру изложения книга близка к монографии П. Уитли «Определение молекулярной структуры» («Мир», 1970). Несмотря на то, что книга написана весьма лаконично, она содержит практически все сведения, необходимые для понимания роли и возможностей...
М.: Издательство Московского университета, 1960. — 632 с. Рентгеноструктурный анализ принадлежит к числу физических методов исследования, наиболее прочно вошедших в химию и минералогию. Одна из основных задач структурного исследования — определение атомного строения кристаллов — представляет, несомненно, гораздо больший интерес для химиков и геохимиков, чем для физиков. Между...
М.: Издательство Московского университета, 1964. — 492 с. Рентгеноструктурный анализ принадлежит к числу физических методов исследования, наиболее прочно вошедших в химию и минералогию. Одна из основных задач структурного исследования — определение атомного строения кристаллов — представляет, несомненно, гораздо больший интерес для химиков и геохимиков, чем для физиков. Между...
Монография. — Киев: Наукова думка, 1983. — 408 с. В монографии изложена современная кинематическая теория рассеяния рентгеновских лучей и нейтронов в кристаллах, содержащих различного типа несовершенства: примесные атомы и другие точечные дефекты, группы дефектов, частицы новой фазы, дислокации и т.д. Проведен общий анализ дифракционных эффектов в неидеальных кристаллах....
2002. – 399 р.
This workshop on Local Structure from Diffraction was organized to bring together leading researchers studying local structure using diffraction techniques. Surprisingly, there are few opportunities for the powder and single crystal diffuse scattering communities to come together in one place and discuss their common goals of local structure determination. This...
1996. – 419 р.
This volume collects the proceedings of the 23rd International Course of Crystallography, entitled "X-rqy and Neutron Dynamical Diffraction, Theory and Applications. " which took place in the fascinating setting of Erice in Sicily, Italy It was run as a NATO Advanced Studies Institute with A. Authier (France) and S. Lagomarsino (Italy) as codirectors, and L. Riva...
М.: Наука. Гл. ред. физ. -мат. лит. , 1986. — 280 с.
Рассмотрено применение метода малоуглового рассеяния рентгеновского излучения и тепловых нейтронов к анализу структуры вещества на надатомном уровне. Изложены основы теории упругого рассеяния коротких волн неупорядоченными системами. Разобраны теоретические н экспериментальные методы нахождения структуры высокоднсперсных...
Л.: Энергоатомиздат, Ленингр. отд-ние, 1989. — 200 с: ил. Рассмотрены особенности конструкции, параметры и характеристики, методы расчета основных параметров рентгеновских трубок для просвечивания материалов, рентгеноспектрального, рентгеноструктурного анализа, технологических целей. На основе анализа особенностей применения трубок в различных областях науки и техники изложены...
М.: Наука, Главная редакция физико-математической литературы, 1982. — 392 с. Книга посвящена изложению динамического рассеяния рентгеновских лучей в идеальных кристаллах и кристаллах с постоянным градиентом деформации. Она является 2-м, переработанным и дополненным изданием книги «Динамическое рассеяние рентгеновских лучей в идеальных кристаллах» (М.: Наука, 1974). С возможной...
Учеб. пособие для вузов. — 3-е изд. доп. и перераб. — М.: МИСиС, 1994. —328 с. В третьем издании (второе вышло в 1970 г. ) учебного пособия описаны экспериментальные и расчетные методики решения задач по рентгеноструктурному анализу, электронографии и электронной микроскопии, анализу дефектов кристаллического строения, качественному и количественному фазовому анализу,...
Перевод с французского Е. Н. Беловой, С.С. Квитки, В.П. Тарасовой, под редакцией академика Н.В. Белова. — Москва: Наука, 1961. — 604 с.
Рентгеноструктурный анализ занимается изучением строения тел из атомов и молекул. Он основан на том, что рентгеновские лучи рассеиваются электронами, окружающими атомы, которые в кристаллическом теле образуют естественную дифракционную решетку...
М.: Физматгиз, 1963. — 380 с. — (Физико-математическая библиотека инженера). До недавнего времени единственным методом рентгенографических измерений был фотографический. В последние годы созданы новые приборы для рентгеноструктурных исследований - дифрактометры, в которых рентгеновскую пленку заменили счетчики квантов. Применение дифрактометров повышает точность,...
М.: ГИТТЛ, 1952. – 588 с. Книга является продолжением книги А.И. Китайгородского «Рентгеноструктурный анализ» (Гостехиздат, 1950) и посвящена применениям рентгеноструктурного анализа к исследованию аморфных и мелкокристаллических веществ. Книга рассчитана на широкий круг научных работников, инженеров, работающих с разнообразными мелкокристаллическими и аморфными веществами,...
М.; Л.: Государственное издательство технико-теоретической литературы, 1950. — 651 с. В книге излагаются проблемы современного рентгеноструктурного анализа: кристаллографические основы структурного анализа, получение рентгеновских лучей и взаимодействие их с веществом. Книга рассчитана на научных работников, инженеров, аспирантов и студентов-физиков и химиков старших курсов.
Комментарии