10 с. Кратко описаны устройство и принцип действия электронных микроскопов, а также методы создания наноструктур с их помощью. Содержание Создание объектов по принципам «сверху-вниз» и «снизу-вверх» Электронные микроскопы Принцип работы просвечивающего электронного микроскопа (ПЭМ) Сканирующие электронные микроскопы Туннельный эффект Сканирующий зондовый микроскоп Принцип...
Белгород, ГОУ ОШИ «Белгородский лицей-интернат», 15 стр., 2008 год. Работа на блиц-конкурс рефератов "Нанобиотехнология - наука XXI века" в рамках всероссийской школы-семинара "Нанобиотехнологии: проблемы и перспективы", Белгород, 11 декабря 2008 года. Концепция развития нанонауки нанотехнологии. Электронная микроскопия. Просвечивающая электронная микроскопия. Сканирующая...
Учебное пособие. — СПбГПУ, 2011. — 190 с.
Предлагаемое учебное пособие ставит целью ознакомить студентов с основами наиболее востребованных методов электронной и ионной спектроскопии, широко применяющимися для анализа материалов, структур и компонентов электронной техники в микро и наномасштабе
В пособии описываются методы электронной и ионной спектроскопии для анализа...
ПНИПУ, Пермь, 2013. 29 стр.
Содержание:
Введение
Термические методы анализа: общие сведения
Термогравиметрия и дифференциальная термогравиметрия
Дифференциальный термический анализ
Дифференциальная сканирующая калориметрия
Анализ выделенного газа
Спектроскопические методы анализа
Термодилатометрия
Термомагнитный анализ
Диэлектрический термический анализ
Лазерный...
Методические указания для выполнения лабораторных работ для студентов очной и заочной форм обучения направления 240100 «Химическая технология и биотехнология». - Екатеринбург, УГЛТУ, 2011. - 17 с.
Активные угли относятся к нанопористым материалам, поскольку имеют в своей структуре поры размером от десятых долей нанометра до 100 нм и более.
Анализ активных углей...
Автореферат. диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук.
-Тамбов. 2007. Работа выполнена на кафедре «Материалы и технология» ГОУ ВПО «Тамбовский государственный технический университет».
Научный руководитель: Чернышов Владимир Николаевич.
Цель работы. Разработка, исследование и внедрение в практику нового метода обнаружения и идентификации нанообъектов...
НТУ "ХПИ", г.Харьков, 2017. — 56 с. Атомно-силовая микроскопия - вид зондовой микроскопии, в основе которого лежит силовое взаимодействие атомов. Принцип работы атомно-силового микроскопа (АС-микроскопа) основан на регистрации силы взаимодействия острого зонда с радиусом закругления порядка десятков нанометров с поверхностью исследуемого материала. Содержание: Вступление....
Томский политехнический университет, Томск, Отделение экспериментальной физики, 2019, 21 с. Автор работы: Кабдылкаков Ержан Аскарулы. Преподаватель: Кузнецов Владимир Сергеевич Содержание Введение Квантовые точки. Свойства квантовых точек. Применение квантовых точек в науке и в промышленности Квантовая точка. Свойства квантовых точек Применение квантовых точек Методы получение...
Автореф. Дисс. На соиск учен степ. канд техн. наук. Спец-ть 05.27.06 -Технология и оборудование для производства полупроводников, материалов и приборов электронной техники Москва, 2004. — 18 с. Количество страниц диссертации 189 Оглавление Введение. Аналитический обзор тенденций развития и перспективы применения многослойных тонкопленочных покрытий. Многослойные тонкопленочные...
КНИТУ им. А.Н. Туполева - КАИ, институт радиоэлектроники, фотоники и цифровых технологий, доцент Добрынин А.Б. Казань, 2024. — 20 с. Специальность - конструирование и технология электронных средств (магистратура). Дисциплина - Методы диагностики и анализа микро- и наноструктур. Введение. Наногравиметрия (QCN). Определение Наногравиметрии. Краткая история пьезоэлектрического...
КНИТУ им. А.Н. Туполева - КАИ, институт радиоэлектроники, фотоники и цифровых технологий, доцент Добрынин А.Б. Казань, 2024. — 20 с. Специальность - конструирование и технология электронных средств (магистратура). Дисциплина - Методы диагностики и анализа микро- и наноструктур. Введение. Фемто- и наносекундная спектроскопия. Основные положения по спектроскопии. Фундаментальные...
Комментарии