Учебно-методический комплекс дисциплины. — М.: МИСиС, 2010. — 164 с. Рассмотрены физические основы, аппаратура и практика реализации рентгеноструктурного, электронографического и нейтронографического анализов, просвечивающей электронной микроскопии, растровой электронной микроскопии и рентгеноспектрального микроанализа. Цель освоения дисциплины — научить основам современных...
Комментарии