Зарегистрироваться
Восстановить пароль
FAQ по входу

Нанометрология

Доверенные пользователи и модераторы раздела

Активные пользователи раздела

2025.04
Сборник тезисов докладов Всероссийского научно-практического семинара с международным участием (Томск, 23–26 сентября 2015 г.). — Томск: Томский политехнический университет, 2015. — 87 с. — ISBN 978-5-4387-0602-1. В сборнике представлены тезисы докладов участников Всероссийского научно-практического семинара с международным участием «Проблемы метрологии нанопорошков и...
  • №1
  • 2,44 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Методические указания к практическим занятиям по дисциплине "Нанометрология". — Липецк: Липецкого государственного технического университета, 2019. — 24 с. Методические указания содержат информацию об основных законодательных актах, обеспечивающих единство измерений в сфере нанотехнологий; о стратегии развития приоритетных направлений экономики; об условиях формирования...
  • №2
  • 26,18 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
Учебное пособие. — М.: Логос, 2011. — 592 с. — ISBN 978-5-98704-613-5. Авторы: Анашина О.Д., Андрюшечкин С.Е., Аневский С.И., Бражников В.В., Булыгин Ф.В., Головань Л.А., Горшкова Т.Б., Гусев А.С., Демин А.В., Заботнов С.В., Золотаревский С.Ю., Золотаревский Ю.М., Иванов В.С., Ильин А.П., Качак В.В., Кашкаров П.К., Клековкин И.В., Кононогов С.В., Коршунов А.В., Крутиков В.Н.,...
  • №3
  • 105,85 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
2015.02
Учебное пособие. — М.: МИЭТ, 2011. — 256 с. — ISBN: 978-5-7256-0658-4 Изложены основные вопросы метрологии с акцентом на ее прикладные аспекты. Представлен и разобран ряд методически и практически важных экспериментальных методов и измерительных методик. Значительное внимание уделено постановке эксперимента, процедурам и схемам измерений, анализу причин и физических эффектов,...
  • №4
  • 5,50 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
2014.01
Монография. — Москва: Логос, 2011. — 416 с. Содержит основные сведения по метрологическому обеспечению наноиндустрии. Рассмотрены становление нанометрологии в XX-XXI вв. и концепции ее развития. Подробно изложены современные основы технического обеспечения нанометрологии. Освещены вопросы нестабильности, точности и неопределенности наноизмерений. Особое внимание уделено...
  • №5
  • 11,21 МБ
  • добавлен
  • описание отредактировано
???
СПб.: Наука, 2008. — 260 с. Монография впервые освещает место и роль стандартизации и метрологии при действиях с объектами, относящимися к нанодиапазону. В книге содержатся сведения о разрабатываемых международных и национальных стандартах в области наноиндустрии, совершенствовании эталонной базы, создании системы информационного обеспечения проводимых работ. Книга...
  • №6
  • 5,43 МБ
  • дата добавления неизвестна
  • описание отредактировано
В этом разделе нет файлов.

Комментарии

В этом разделе нет комментариев.