Berlin, Heidelberg: Springer-Verlag, 2006 - 897p. ISBN10: 3-540-28603-9 X-Ray Fluorescence analysis (XRF) is a reliable multi-elemental and nondestructive analytical method widely used in research and industrial applications. This practical handbook provides self-contained modules featuring XRF instrumentation, quantification methods, and most of the current applications. The...
Handbook. J.F.Moulder, W.F.Stickle, P.E.Sobol, K.D.Bomben. — Eden Prairie (Minnesota, USA): Perkin-Elmer Corporation, Physical Electronics Division, 1992. — 261 p. — ISBN: 0962702625 (ISBN13: 9780962702624). Х-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS), also known as Electron Spectroscopy for Chemical Analysis (ESCA), is widely used to investigate the chemical composition of...
Handbook. J.F.Moulder, W.F.Stickle, P.E.Sobol, K.D.Bomben. — Eden Prairie (Minnesota, USA): Perkin-Elmer Corporation, Physical Electronics Division, 1992. — 261 p. — ISBN: 0962702625 (ISBN13: 9780962702624). Х-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS), also known as Electron Spectroscopy for Chemical Analysis (ESCA), is widely used to investigate the chemical composition of...
Handbook. J.F.Moulder, W.F.Stickle, P.E.Sobol, K.D.Bomben. — Eden Prairie (Minnesota, USA): Physical Electronics Inc., 1995. — 261 p. — ISBN: 0-9648124-1-Х. Х-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS), also known as Electron Spectroscopy for Chemical Analysis (ESCA), is widely used to investigate the chemical composition of surfaces. The use of XPS in analytical laboratories...
Handbook. J.F.Moulder, W.F.Stickle, P.E.Sobol, K.D.Bomben. — Eden Prairie (Minnesota, USA): Physical Electronics Inc., 1995. — 261 p. — ISBN: 0-9648124-1-Х. Х-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS), also known as Electron Spectroscopy for Chemical Analysis (ESCA), is widely used to investigate the chemical composition of surfaces. The use of XPS in analytical laboratories...
Handbook. C.D.Wagner, W.M.Riggs, L.E.Davis, J.F.Moulder. — Eden Prairie (Minnesota, USA): Perkin-Elmer Corporation, Physical Electronics Division, 1979. — 190 p + 2 p. X-Ray Photoelectron Spectroscopy (XPS), more popularly known as Electron Spectroscopy for Chemical Analysis (ESCA), is now a widely-used analytical technique for investigating the chemical composition of solid...
Handbook. C.D.Wagner, W.M.Riggs, L.E.Davis, J.F.Moulder. — Eden Prairie (Minnesota, USA): Perkin-Elmer Corporation, Physical Electronics Division, 1979. — 190 p + 2 p. X-Ray Photoelectron Spectroscopy (XPS), more popularly known as Electron Spectroscopy for Chemical Analysis (ESCA), is now a widely-used analytical technique for investigating the chemical composition of solid...
2nd edition, Revised and Expanded - Marcel Dekker, 2002, 985 pages Updates fundamentals and applications of all modes of x-ray spectrometry. Promotes the accurate measurement of samples while reducing the scattered background in the x-ray spectrum. X-ray Physics Wavelength-Dispersive X-ray Fluorescence Energy-Dispersive X-ray Fluorescence Analysis Using X-ray Tube Excitation...
Database. — Oakland, CA: National Institute of Standards and Technology, 1991. — 69 p. +7 p. (NIST Technical Note 1289). The technique known as XPS (X-Ray Photoelectron Spectroscopy) involves x-ray irradiation of surface samples under high vacuum. Electrons escaping from the samples are sorted and arranged to form a spectrum. A compilation of data for binding energy and kinetic...
Database. — Oakland, CA: National Institute of Standards and Technology, 1991. — 69 p. +7 p. (NIST Technical Note 1289). The technique known as XPS (X-Ray Photoelectron Spectroscopy) involves x-ray irradiation of surface samples under high vacuum. Electrons escaping from the samples are sorted and arranged to form a spectrum. A compilation of data for binding energy and kinetic...
Springer-Verlag, Berlin, Heidelberg. – 2007. 969 pages. – ISBN: 978-3-540-28618-9. Today, with energy-dispersive and wavelengthdispersive techniques, modern methods in X-ray analysis are used in a wide range of applications, as for example in X-ray fluorescence analysis, electron microbeam analysis, X-ray fluorescence analysis with charged particles, and so on. In many...
М.: Наука, 1982. — 374 с. Книга содержит справочные таблицы физических величин, используемых при рентгеноспектральном анализе и работах по рентгеновской спектроскопии. Даны коэффициенты ослабления в интервале длин вон 0,1-250 А для основных линий всех элементов во всех поглощающих элементах, длины волн и энергии фотонов всех линий рентгеновского спектра для всех элементов,...
М., "Наука", 1982 г. 374 с.
Книга содержит справочные таблицы физических величин, используемых при рентгеноспектральном анализе и работах по рентгеновской спектроскопии. Даны коэффициенты ослабления в интервале длин вон 0,1-250 А для основных линий всех элементов во всех поглощающих элементах, длины волн и энергии фотонов всех линий рентгеновского спектра для всех элементов,...
Москва: АН СССР, 1953. — 273 с. Сведения из теории строения атома Некоторые физические и математические постоянные Общие сведения по рентгеновской спектроскопии Таблицы для рентгено-химического анализа Таблицы длин волн рентгеновских линий испускания и краев поглощения элементов от 3 (Li) до 93 (Np) Энергии рентгеновских уровней атомов элементов в ридбергах
Москва: АН СССР, 1953. - 273 с.
Сведения из теории строения атома
Некоторые физические и математические постоянные
Общие сведения по рентгеновской спектроскопии
Таблицы для рентгено-химического анализа
Таблицы длин волн рентгеновских линий испускания и краев поглощения элементов от 3 (Li) до 93 (Np)
Энергии рентгеновских уровней атомов элементов в ридбергах
2-е изд., перераб. и доп. — М.: Машиностроение. 1992. 480 с.
Второе издание (первое 1980 г.) справочника является совместной работой советских и зарубежных специалистов в области рентгенотехники.
В первой книге изложены физические основы рентгеновских методов контроля, описаны дозиметрия рентгеновского излучения и защита от него, рентгеновские трубки и излучатели,...
2-е изд., перераб. и доп. — М.: Машиностроение. 1992. 368 с.
Второе издание (первое 1980 г.) справочника является совместной работой советских и зарубежных специалистов в области рентгенотехники.
Во второй книге рассмотрены аппараты для промышленной дефектоскопии, методы рентгеноструктурного анализа и аппаратура для него, флуоресцентный рентгеноспектральный анализ, медицинские...
В 2-х кн. — 2-е изд., перераб. и доп. — М.: Машиностроение, 1992. — 480 с. 2-е издание (1-ое 1980 г.) справочника является совместной работой советских и зарубежных специалистов в области рентгенотехники. В 1-ой книге изложены физические основы рентгеновских методов контроля, описаны дозиметрия рентгеновского излучения и защита от него, рентгеновские трубки и излучатели,...
В 2-х кн. — 2-е изд., перераб. и доп. — М.: Машиностроение, 1992. — 368 с. Второе издание (первое 1980 г.) справочника является совместной работой советских и зарубежных специалистов в области рентгенотехники. Во второй книге рассмотрены аппараты для промышленной дефектоскопии, методы рентгеноструктурного анализа и аппаратура для него, флуоресцентный рентгеноспектральный...
М.: Химия, 1984. — 256 с. Изложены основы рентгеноэлектронной спектроскопии — одного из основных методов исследования химической связи и поверхности твердых тел. Рассмотрена взаимосвязь химических сдвигов в рентгеноэлектронных спектрах с эффективным зарядом изучаемого атома. Изложены возможности метода при исследовании координационных и элементорганических соединений — определения...
Комментарии